出版したKindle本を紹介します。
信頼性データ解析に関してです。
製品設計部署に配属されると、製品の信頼性を考えることになるでしょう。
その際、どれくらいの時間試験すれば、
信頼性（製品がどの程度の期間故障しないか）を評価できるのかの
考え方が重要になってきます。
場合によっては、試験しても壊れないかも知れないですが、
それでも、どの期間まで保つのかを算出しないといけません。
というのも、どの程度、製品の信頼性の余裕度があるのかが分からないと
何か不具合があった時に余裕度の内数で対応できるのか、
余裕度が無いためすぐにリコールしないといけないのか、
と言った指標になるからです。
また、信頼性試験自体はいつ頃まで故障せずに使用できるのかを調べるため
試験時間が長くなる傾向にあります。
また、製造や設計条件を振った際に
いろいろなサンプルができてしまい
評価数が膨大になりやすい点もあります。
そのため、試験時間を短くする方法、試験サンプル種類を減らすのも
試験を効率的に進めるうえで重要になってきます。
本書では、
信頼性試験のデータ解析の基礎と
信頼性試験の時間と数の壁を解決する手法について述べました。
是非、読んでみてください。
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気軽に読んでみてください。
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↓概要文
信頼性試験データ解析の基礎から書きました。
電子部品の信頼性試験を行った後、信頼性データ解析を行う必要があります。
データ解析を行うことで、実際に使われる年数以上製品が故障しないことを保証できます。
信頼性試験によって物が破壊された場合の解析は容易な方ですが、非破壊の場合は工夫が要ります。
また、信頼性試験自体、時間を要する試験ではありますが、これも工夫次第で時短や試験数の大幅削減が出来ます。
本書では、破壊・非破壊時の解析、時短方法について述べていきます。
読者の対象は以下の方です。
・信頼性試験技術を仕事で使い始めた人
・製品設計や品質保証に従事する人
分かりやすい説明を心掛けました。
色々な専門書に手を出す前にまず、本書を読んでいただきたいです。
本書を読めば、以下の疑問に答えられる内容となっております。
破壊時の信頼性試験データ解析方法は？
MTTFとは？
B10とは？
ワイブル分布とは？
形状パラメーター、尺度パラメーター、位置パラメーターの意味は何？
不信頼度とは？
故障密度関数とは？
故障率関数とは？
不信頼度、故障密度関数、故障率関数の関係は？
ワイブル解析方法はどのように行う？
平均ランク法・メディアンランク法とは？
信頼性余裕度とは？
非破壊時の信頼性データ解析方法は？
SSモデルとは？
SSモデルでの非破壊の取り扱いの利点は？
SSモデルで余裕度を見積もることのメリットは？
信頼性試験時間を短く済ませる方法は？
信頼性試験の評価サンプル種類（数）を減らす方法は？
サンプルを比較する時の観点は？
以上の事柄を分かりやすく書きました。
記載した疑問点に関して、複数わからない箇所があれば
是非、本書を手に取ってみてください。
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